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      雙面測試

      ICT雙面測試

      ICT雙面測試

      產品詳情

        FCT測試治具單面測試治具配天板方便交換機種使用可調培林座,容易保養;使用壓克力&電木&fr4材質&INGUN板材(或指定)。


        根據客戶使用習慣采用Fabmaster&宇柏林&考迪分析軟件自動處理gerber文件,軟件自動生成鉆孔文件,保證鉆孔精度。測試程式自動生成,避免手工輸入出錯。


        ICT測試治具適用于tri、jet、newsys、okano、tescon、gwposhell、src、concord等ICT在線測試儀機型。


        IC測試治具閱讀時間的方法


        IC測試治具的測試閱讀時間有什么方法?公司電子總結出以下內容,希望對你有幫助,從內存中讀取所需的數據,內存訪問時間的IC測試治具。方法測試治具測試閱讀時間一般如下:


        1,對單元寫數據0”;


        2,寫“1單元B”的數據;


        3,堅持閱讀使讀值;


        4,基本上是在記憶的持續時間的IC測試過爐治具的測量數據


        5,轉換時間從地址轉換來轉換數據之間的時間;


        6,恢復時間之后所寫的,寫的讀取存儲單元必須等待時間;


        7,暫停時間,存儲單元可以保持其狀態的時間。


        8,刷新時間刷新存儲器;


        9,建立的時間——變換輸入的數據必須被鎖定在輸入時鐘的時間提前;


        10,堅持以輸入的數據必須堅持的時間鎖定的時鐘輸入。


        同時,改變IC測試治具的測試周期,通過反復運行功能測試。測試設備的速度,周期和頻率通常是通過二進制搜索法的快速變化,頻率測試發現該設備可以運行。

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