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      測試針帶動IC測試治具的運行嗎?

      編輯:深圳市德律鑫科技有限公司  時間:2020-06-22

        測試針帶動IC測試治具的運行嗎?


        隨著信息技術時代的發展,而今信息化代表了世界發展的潮流。信息產業不僅推動了全球的經濟發展,而且成為科技創新的核心力量。IC市場前景廣闊,那IC測試治具來說吧:


        IC測試治具是整個IC設計、流片、應用過程中不可或缺的一-環,它不僅可幫助廠商大幅節省測試成本,且測試結果直觀可靠。測試針是IC測試治具中的重要零件之一-,那么它主要起到了什么作用呢?


        1、增強耐用度:IC測試治具測試針設計使彈簧空間比傳統探針要大,因而可以達到更長的壽命和容納更強的彈力。


        2、獨有的永不間斷電接觸設計:行程超過或不足2/3其電性接觸皆能保持性低阻值,徹底消除任何因探針導致的假性開路誤叛。


        3、至目標測點準度誤差更嚴謹:IC測試治具的測試針能達到同類型產品無法比擬的至目標測點精度。


        IC測試冶具通用性高,只需更換顆粒限位框,即可測試尺寸不同的顆粒;采用超短進口雙頭探針設計,相比同類測試產品,可使IC和PCB之間的數據傳輸距離更短,從而保證測試結果更穩定,頻率更高,DDR3系列高頻率可達2000MHz。


        測試針是否是帶動了IC測試治具運行呢?測試針對于IC測試治具作用確實蠻大的,以上分析你懂了吧?

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