測試針帶動IC測試治具的運行嗎?

　　測試針帶動IC測試治具的運行嗎?

　　隨著信息技術時代的發展，而今信息化代表了世界發展的潮流。信息產業不僅推動了全球的經濟發展，而且成為科技創新的核心力量。IC市場前景廣闊，那IC測試治具來說吧:

　　IC測試治具是整個IC設計、流片、應用過程中不可或缺的一-環，它不僅可幫助廠商大幅節省測試成本，且測試結果直觀可靠。測試針是IC測試治具中的重要零件之一-，那么它主要起到了什么作用呢?

　　1、增強耐用度:IC測試治具測試針設計使彈簧空間比傳統探針要大，因而可以達到更長的壽命和容納更強的彈力。

　　2、獨有的永不間斷電接觸設計:行程超過或不足2/3其電性接觸皆能保持性低阻值，徹底消除任何因探針導致的假性開路誤叛。

　　3、至目標測點準度誤差更嚴謹:IC測試治具的測試針能達到同類型產品無法比擬的至目標測點精度。

　　IC測試冶具通用性高，只需更換顆粒限位框，即可測試尺寸不同的顆粒;采用超短進口雙頭探針設計，相比同類測試產品，可使IC和PCB之間的數據傳輸距離更短，從而保證測試結果更穩定，頻率更高，DDR3系列高頻率可達2000MHz。

　　測試針是否是帶動了IC測試治具運行呢?測試針對于IC測試治具作用確實蠻大的，以上分析你懂了吧?